CN120286096A 用于高吞吐量微滴操纵的方法和设备 （光投发现有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120286096A(43)申请公布日2025.07.11

(21)申请号202510357824.2

(22)申请日2021.01.22

(30)优先权数据

2001051.82020.01.24GB

(62)分案原申请数据

202180012015.82021.01.22

(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任公司11021

专利代理师文洁孙纪泉

(51)Int.CI.

B01L3/00(2006.01)

(71)申请人光投发现有限公司地址英国

(72)发明人詹姆斯·布什

杰斯敏·考尔·查纳·康特里奥

佩德罗·昆哈

威廉·米歇尔·得肯

卡梅伦·弗莱林

托马斯·亨利·艾萨克

伊布拉黑姆·塞金·托普卡亚

权利要求书2页说明书12页附图8页

(54)发明名称

用于高吞吐量微滴操纵的方法和设备

(57)摘要

本发明提供了用于并行地操纵和查询微流体芯片的表面上的大量微滴的内容物的方法和设备。根据本发明的一个方面，提供了一种用于通过光学介导的电润湿(oEWOD)来操纵和检查微流体芯片上的微滴的方法，该方法包括：使用第一光学组件在芯片的表面上形成多个oEWOD陷阱；使用第二光学组件在芯片的表面上形成

CN120286096AoEWOD陷阱的第二阵列；以及对第一光学组件进行调整，同时通过oEWOD陷阱的第二阵列将一个

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CN120286096A权利要求书1/2页

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1.一种用于操纵微滴的设备，包括：

微流体芯片，所述微流体芯片包括限定微流体空间的第一复合壁和第二复合壁，并且所述微流体芯片被配置为通过光学介导的电润湿(oEWOD)来操纵限定微流体空间的表面上的微滴；

第一光学组件，所述第一光学组件被配置为形成第一多个oEWOD陷阱以操纵所述表面上的多个微滴；

第二光学组件，所述第二光学组件被配置为在所述表面上形成第二多个oEWOD陷阱以在对所述第一光学组件的调整期间和/或在装载操作期间保持多个微滴的相对位置；以及

检查部件，所述检查部件被配置为询问多个微滴的内容物。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述检查部件是电磁辐射源并且与来自所述第一光学组件的电磁辐射复用。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备，其中，所述第一复合壁和所述第二复合壁是至少部分透明的，并且所述第一光学组件和所述第二光学组件位于所述微流体空间的相对侧上。

4.根据权利要求1或权利要求3所述的设备，其中，所述第一复合壁和所述第二复合壁中的至少一个是透明的，所述第一光学组件和所述第二光学组件位于所述微流体空间的同一侧上，并且其中，彩色滤光器被应用于所述第二光学组件以防止与所述第一光学组件干涉。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的设备，其中，所述第一光学组件和所述第二光学组件中的至少一个包括微透镜阵列。

6.一种用于操纵微粒的设备，所述设备包括：

芯片，所述芯片包括第一透明复合壁和第二透明复合壁，所述第一透明复合壁和所述第二透明复合壁限定保持空间并且被配置为操纵位于限定所述保持空间的表面上的微粒；

第一光学组件，所述第一光学组件被配置为通过所述第一复合壁将光学束引导到所述表面上以形成第一多个光学陷阱，以操纵所述表面上的多个微粒；

第二光学组件，所述第二光学组件被配置为通过所述第二复合壁将光学束引导到所述表面上以在所述表面上形成第二多个光学陷阱，以在对所述第一光学组件的调整期间和/或在装载操作期间保持所述多个微粒的相对位置；以及

检查部件，所述检查部件被配置为询问所述多个微粒的内容物。

7.一种用于检查或操纵微滴的阵列的设备，所述设备包括：

微流体芯片，所述微流体芯片包括限定微流体空间的第一复合壁和第二复合壁，并且所述微流体芯片被配置为通过光学介导的电润湿(oEWOD)来操纵限定微流体空间的表面上的微滴；

第一光学组件；

第二光学组件，所述第二光学组件包括光源，所述光源在对所述第一光学组件的调整期间充当保持光源；以及

检查部件，所述检查部件与所述光学组件物理地分离。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述第一光学组件是高分辨率光学组件，以及所述第二光学组件是低分辨率光学组件。

CN120286096A权利要求书