导电阳极丝（CAF）试验热成像辅助定位失效分析方法.docx

《导电阳极丝（CAF）试验热成像辅助定位失效分析方法》标准立项与发展研究报告

EnglishTitle:ResearchReportontheStandardizationDevelopmentof“FailureAnalysisMethodforConductiveAnodicFilament(CAF)TestAssistedbyThermalImagingLocalization”

摘要

随着云计算、人工智能及大数据技术的飞速发展，作为核心算力载体的服务器正朝着高运算速率、高可靠性、超大容量存储及高集成化的方向演进。印制电路板（PCB）作为服务器电气性能的关键承载部件，其技术迭代与可靠性保障面临前所未有的挑战。导电阳极丝（CAF）失效是影响高密度、高可靠性PCB长期稳定性的主要电化学迁移模式之一，其失效点的精准、无损定位一直是行业技术瓶颈。传统的有损分析方法（如割线法）存在定位模糊、效率低下、破坏样品等弊端，严重制约了失效根因分析与工艺改进。

本报告旨在系统阐述《导电阳极丝（CAF）试验热成像辅助定位失效分析方法》标准立项的背景、目的、技术内容及发展前景。该标准创新性地引入锁相红外热成像技术，通过微功率脉冲激励与红外辐射探测，实现了对CAF失效点的快速、精准、无损定位。核心内容包括红外热成像检测原理、关键参数设置规范（如初始电压、限流设置）以及基于大量试验数据的统计分析（如对不同绝缘阻值范围样品的定位成功率）。报告通过对比国内外现有相关标准，凸显了本标准的独特应用价值与先进性。该标准的制定与推广，将填补国内在PCB微观失效无损定位领域的标准空白，推动行业分析技术从“有损区域判断”向“无损精确定位”的跨越，对提升我国高端PCB的可靠性设计、制造与失效分析水平具有重大意义。目前，该方法正积极推动成为IEC国际标准提案，预计将于2025年底完成新工作项目提案（NP）阶段，后续将通过采标转化为国家标准，实现国内外技术同步。

关键词：导电阳极丝；CAF；红外热成像；失效分析；无损检测；印制电路板；可靠性；标准

Keywords:ConductiveAnodicFilament(CAF);InfraredThermography;FailureAnalysis;NondestructiveTesting;PrintedCircuitBoard(PCB);Reliability;Standard

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正文

一、立项背景与目的意义

在全球数字化、智能化浪潮的驱动下，服务器作为核心信息基础设施，其性能指标呈现指数级提升。计算速率、能效比、存储密度及系统集成度已成为衡量服务器先进性的关键维度。印制电路板（PCB）作为服务器内部电气互联与信号传输的物理基础，其技术发展必须与整机性能的跃迁保持同步。特别是面向高性能计算、数据中心及人工智能训练等场景的高端服务器，对PCB提出了“高速、高频、高密度、高可靠性”的严苛要求。

在此背景下，PCB制造技术持续向细线路、小孔径、高层数、薄型化方向演进。然而，随着导线间距不断缩小、层间介质层日益变薄，在高温高湿偏压的恶劣工作环境下，PCB内部发生导电阳极丝（CAF）的风险显著增加。CAF是一种沿着玻璃纤维束或树脂界面的电化学迁移现象，会导致绝缘电阻下降甚至短路，是影响长期可靠性的致命缺陷。因此，CAF试验已成为评估PCB，尤其是高端服务器用PCB可靠性的强制性验证项目。

长期以来，CAF试验失效后的定位分析是行业技术痛点。传统方法主要依赖有损分析，如“割线法”，即通过逐层切割绝缘线路，测量阻值变化来大致判断失效区域。该方法存在明显弊端：一是破坏性大，分析后样品完全损毁，无法进行后续复测或其它分析；二是定位精度低，只能将失效点锁定在较大范围内，难以精确定位到微观的离子迁移路径起点；三是效率低下，过程繁琐耗时。这些弊端严重阻碍了对CAF失效根本原因的深入追溯与工艺优化。

为解决上述行业共性难题，在国家重点研发计划等项目的支持下，深南电路股份有限公司联合工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）等行业权威机构，基于大量基础研究与工程实践，提出了“导电阳极丝（CAF）试验热成像辅助定位失效分析方法”。本标准立项的核心目的与意义在于：

1.建立先进的无损定位方法：规范利用锁相红外热成像技术对CAF失效点进行快速、精准、无损定位的操作流程，实现技术突破。

2.提升失效分析效率与精度：将分析时间从传统方法的40-60分钟缩短至5-10分钟，并将定位精度从“区域”提升至“点”，为根因分析提供明确靶点。

3.保护样品价值：实现无损分析，使得同一样品可进行多种后续分析（如切片、SEM/EDS成分分析），极大提升了样品利用率和分