CN114520152A 侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法 (中国电子科技集团公司第四十三研究所).docxVIP

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CN114520152A 侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法 (中国电子科技集团公司第四十三研究所).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN114520152A(43)申请公布日2022.05.20

(21)申请号202210017561.7

(22)申请日2022.01.07

(71)申请人中国电子科技集团公司第四十三研究所

地址230088安徽省合肥市高新技术开发

区合欢路19号

(72)发明人王宁张志成高磊计雨辰

(74)专利代理机构合肥天明专利事务所(普通合伙)34115

专利代理师张梦媚

(51Int.CL.

HO1LHO1L

HO1L

21/48(2006.01)

23/04(2006.01)

23/08(2006.01)

权利要求书1页

说明书6页附图2页

(54)发明名称

第二填充件第一填充件防粘处理

第二填充件

第一填充件防粘处理

层压成型

氮化铝生瓷片

防粘膜

金属盖板

第一填充件

烧结

叠片

(57)摘要

CN114520152A本发明公开了一种侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,主要步骤有:将所述氮化铝生瓷片进行叠片,形成层叠体,层叠体中形成有主腔体和侧面腔体,同时,第一填充件填充在所述侧面腔体中,第二填充件填充件填充在所述主腔体中;真空包封后层压成型;去除第一填充件和第二填充件等,最后再烧结获得侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷。该制作方法能够很好的防

CN114520152A

CN114520152A权利要求书1/1页

2

1.一种侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,包括下列步骤:

获取第一填充件、第二填充件、防粘膜、若干氮化铝生瓷片和金属盖板;

将所述氮化铝生瓷片进行叠片,形成层叠体,所述层叠体中形成有主腔体和侧面腔体,同时,所述第一填充件填充在所述侧面腔体中,所述第二填充件填充件填充在所述主腔体中;所述层叠体的顶层为所述金属盖板,所述金属盖板开设有空腔,其开腔尺寸与所述主腔体相同,所述金属盖板的上表面与所述第二填充件的上表面齐平;所述防粘膜设于所述金属盖板与所述氮化铝生瓷片之间;

将所述层叠体真空包封后层压成型,获得生瓷坯;

去除所述生瓷坯中的第一填充件、第二填充件、防粘膜和金属盖板;

烧结所述生瓷坯,制得侧面开腔的氮化铝多层陶瓷。

2.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述第一填充件为金属材质且表面进行防粘处理,所述第二填充件为橡胶材质。

3.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述叠片在叠压板上进行,所述叠压板上设有定位销,所述氮化铝生瓷片、第二填充件、防粘膜和金属盖板上设有定位孔,所述定位孔与所述定位销配合。

4.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述金属盖板的厚度在200-400μm之间。

5.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述第二填充件的外形尺寸比所述主腔体的单边尺寸小0.10-0.15mm。

6.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述第一填充件的长度方向L的尺寸与所述侧面腔体相同,其宽度方向W和厚度方向H的尺寸比所述侧面腔体的宽度和高度尺寸分别小0.05mm-0.10mm。

7.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,所述层压成型采用热等静压成型,所述热等静压成型的预热温度为40-65℃,等静压压力为6MPa-14MPa,保压时间为300-500s。

8.如权利要求1所述的侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法,其特征在于,去除所述第一填充件时,于60-70℃预热15-20min后取出。

9.一种侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷,其特征在于,采用如权利要求1-8任一项所述的制作方法制得。

CN114520152A说明书1/6页

3

侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法

技术领域

[0001]本发明属于氮化铝多层陶瓷加工技术领域,特别涉及一种侧面腔体结构的氮化铝多层陶瓷的制作方法。

背景技术

[0002]氮化铝陶瓷具有高热导率,热膨胀系数小的特点,因氮化铝多层陶瓷具有垂直互联特点,缩短信号传输路径,集成度高的优点,被广泛应用于混合集成电路中,尤其是

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