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2026年电镜分析试题含答案解析

姓名：__________考号：__________

一、单选题(共10题)

1.在电镜分析中，哪种类型的电镜可以提供原子分辨率的图像？()

A.扫描电子显微镜

B.透射电子显微镜

C.反射式高能电子衍射

D.电子能量损失谱

2.电镜样品制备过程中，临界点干燥法主要用于去除样品中的哪种成分？()

A.水分

B.溶剂

C.氧气

D.腐蚀产物

3.在透射电子显微镜中，加速电压越高，电子束的穿透能力会发生什么变化？()

A.减弱

B.增强

C.不变

D.无法确定

4.电子衍射图案中，晶格条纹间距与什么因素有关？()

A.电子束的波长

B.电子束的加速电压

C.透镜的焦距

D.以上都是

5.电镜分析中，样品制备过程中使用支撑膜的主要目的是什么？()

A.增强样品的导电性

B.防止样品在干燥过程中变形

C.提高样品的分辨率

D.增加样品的稳定性

6.在透射电子显微镜中，加速电压对电子能量损失谱有什么影响？()

A.增加能量损失谱的灵敏度

B.降低能量损失谱的灵敏度

C.不影响能量损失谱的灵敏度

D.无法确定

7.电镜分析中，电子束与样品相互作用的主要过程是什么？()

A.衍射

B.吸收

C.反射

D.散射

8.电镜分析中，什么是电子束的穿透深度？()

A.电子束在样品中传播的距离

B.电子束在样品中产生信号的深度

C.电子束在样品中失去能量的深度

D.以上都是

9.在透射电子显微镜中，什么是电子能量损失谱（ELNES）？()

A.电子束与样品相互作用产生的能量损失谱

B.电子束与样品相互作用产生的衍射图案

C.电子束与样品相互作用产生的吸收谱

D.电子束与样品相互作用产生的散射图案

10.在电镜分析中，为什么需要使用超薄切片技术？()

A.提高样品的导电性

B.提高样品的分辨率

C.减少样品制备的复杂程度

D.提高样品的透明度

二、多选题(共5题)

11.在透射电子显微镜（TEM）中，以下哪些因素会影响电子束的穿透深度？()

A.电子束的波长

B.电子束的加速电压

C.样品的厚度

D.透镜的焦距

12.以下哪些技术可以用于电镜样品的制备？()

A.临界点干燥法

B.液氮冷冻断裂

C.离子减薄

D.石蜡包埋

13.在透射电子显微镜中，以下哪些现象可以用来分析样品的晶体结构？()

A.衍射

B.吸收

C.散射

D.反射

14.以下哪些因素会影响透射电子显微镜的分辨率？()

A.电子束的波长

B.样品的厚度

C.透镜的分辨率

D.电子束的电流

15.在电镜分析中，以下哪些方法可以用来研究样品的化学成分和化学状态？()

A.能量色散X射线光谱（EDS）

B.电子能量损失谱（ELNES）

C.X射线衍射（XRD）

D.电子背散射衍射（EBSD）

三、填空题(共5题)

16.透射电子显微镜中，为了获得清晰的图像，通常需要将样品制成非常薄的切片，其厚度一般在______纳米以下。

17.在电镜分析中，使用临界点干燥法可以有效地去除样品中的______，防止样品在干燥过程中变形。

18.透射电子显微镜中，加速电压越高，电子束的穿透能力越______，但同时也可能增加样品的辐射损伤。

19.在透射电子显微镜中，电子能量损失谱（ELNES）可以用来分析样品的______和______，是了解样品化学成分和化学状态的重要手段。

20.电镜分析中，电子背散射衍射（EBSD）技术可以用来分析材料的______和______，广泛应用于晶体材料的表征。

四、判断题(共5题)

21.透射电子显微镜（TEM）的分辨率可以达到亚纳米级别。()

A.正确B.错误

22.电镜样品制备过程中，临界点干燥法是一种快速干燥样品的方法。()

A.正确B.错误

23.在透射电子显微镜中，加速电压越高，电子束的波长越短。()

A.正确B.错误

24.电子能量损失谱（ELNES）只能提供样品的化学成分信息。()

A.正确B.错误

25.电镜分析中，使用离子减薄技术可以增加样品的导电性。()

A.正确B.错误

五、简单题(共5题)

26.请简述透射电子显微镜（TEM）在材料科学研究中的应用。

27.为什么在透射电子显微镜样品制备中，临界点干燥法