深度解析(2026年)《SJT 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法》.pptxVIP

;

目录

一、二、三、四、五、六、七、八、九、十、一、引领第三代半导体腾飞：深度剖析SJ/T11503标准在碳化硅抛光片质量控制中的基石作用与未来前瞻

（一）从基础规范到产业命脉：解析标准为何是碳化硅产业链高质量发展的“隐形守护者”

标准的制定远非简单的文本工作，它实质上是为处于高速成长期的碳化硅材料产业构筑了统一、可比的质量评价“语言”体系。在碳化硅衬底迈向更大尺寸、更低缺陷密度的进程中，SJ/T11503-2015通过确立权威的粗糙度测试方法，为材料供应商、器件制造商乃至终端用户提供了可靠的质量判据，有效避免了因测试方法不一致导致的商业纠纷与技术壁垒，是产业从实验室走向规模