深度解析(2026年)GBT 36613-2018《发光二极管芯片点测方法》.pptxVIP

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目录

一、一、前瞻与溯源：专家视角解析GB/T36613-2018在第三代半导体浪潮中的奠基意义与核心价值

二、二、庖丁解牛：深度剖析标准框架的顶层设计逻辑与各章节内容的精密互联关系

三、三、明察秋毫：专家深度解读电学参数点测（I-V、动态电阻）的严苛条件、关键步骤与潜在陷阱

四、四、追光逐影：破解光学参数点测（光通量、光谱、色度）的核心技术要点与校准溯源的全链条管理

五、五、温度之衡：深度探究结温控制与热管理在点测中的决定性影响与精密测量实践方案

六、六、稳定之源：全面解构点测系统硬件（探针台、积分球、电测单元）的选型、校准与稳定性保障体系

七、七、数据之魂：从原始信号到权威报