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对PLD进行边界扫描〔JTAG〕故障诊断

摘要：结合自习惯算法、CX-TB导通测试算法以及二进制计数测试序列，给出了用软件操纵EPM9320LC84边界扫描链路，以输出图形并采集引足对图形的响应，然后通过对比输出测试图形与采集测试图形的差异实现芯片I／O引足印刷电路板故障的诊断方法。该测试图形便于实现，测试方法快捷、通用性强，诊断结果正确，故障覆盖率高。文中在以ＰＣ机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的根底上，对单芯片——EPM9320LC84的印刷电路板故障诊断进行了一些讨论。

要害词：边界扫描；故障诊断；测试图形

IEEE1149.1标准规定的边界扫描技术是针对复杂数字电路而制定的。标准中的自治测试技术现已成为数字系统可测性设计的主流。在利用边界扫描技术对芯片印刷电路板进行测试时，单芯片与多芯片电路板虽有相同点，但也有不同点。因为多芯片的电路板能够将几个芯片分不作为测试向量进行发送和接收，而单芯片电路板那么只需要一个集发送、接收于一体的芯片。本文在以ＰＣ机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的根底上，对单芯片ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的印刷电路板故障诊断进行了讨论。

１ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的结构和性能

１．１要紧性能

ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４是Ａｌｔｅｒａ公司生产的ＥＰＬＤ器件，它的要紧性能如下：

●内含ＪＴＡＧ边界扫描测试电路。

●在５Ｖ电源条件下，ＪＴＡＧ接口可编程。

●所有的Ｉ／Ｏ均可在３．３Ｖ或５Ｖ电源下工作，同时在引足处都有输进／输出存放器。

●ＡｌｔｅｒａＭＡＸ＋ＰＬＵＳⅡ开发系统可提供软件设计支持，该开发系统可工作在４８６ＰＣ机、奔腾ＰＣ机、ＳｕｎＳＰＡＲＣ工作站、ＨＰ９０００系列７００工作站、ＩＢＭＲＩＳＣ系统／６０００或ＤＥＣＡｌｐｈａＡＸＰ工作站上。

●利用ＥＤＩＦ、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬ、ＶＨＤＬ和其它软件可通过ＣＡＥ工具〔如ＯｒＣＡＤ〕提供仿真支持。

１．２管足讲明

图１是ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的引足图，其功能如下：

ＶＣＣ、ＶＰＰ：芯片电源端。

ＧＮＤ:芯片地端。

Ｉ／Ｏ：输进／输出引足。

ＩＮ１～ＩＮ４:专用输进引足。

ＴＣＫ，ＴＭＳ：分不为时钟测试和测试模式选择端。

：测试模式选择端。

ＴＤＩ，ＴＤＯ分不为测试数据输进、输出端。

其中，ＴＣＫ、ＴＭＳ、ＴＤＩ、ＴＤＯ为ＪＴＡＧ边界扫描接口，它们和芯片内部的边界扫描存放器５０４个数据捕捉存放器，１６８个数据更新存放器，一个指令捕捉存放器，一个指令更新存放器链形成的边界扫描结构一起可用于芯片内部和外部测试。

２测试系统配置

把ＢｙｔｅＢｌａｓｔｅｒ下载电缆连到ＰＣ机的打印并口可实现ＰＣ机并口与ＪＴＡＧ接口的互连。ＰＣ机可用软件来操纵边界扫描接口以完成边界扫描测试任务。

利用ＶＣ＋＋语言可编写ＭＦＣ应用程序〔内容要紧包括：ＴＡＰ操纵类、测试向量生成、发送、采集类、故障诊断类等〕以到达人机交互、故障诊断、数据治理三个方面的要求。

３数据发送与数据采集

３．１数据发送

通过ｅｘｔｅｓｔ模式发送数据时。可在移位时期将捕捉存放器的数据移出，同时将测试图形移进。而在更新时期，测试图形从捕捉存放器传送到更新存放器，再由更新存放器驱动测试信号并将其输出至Ｉ／Ｏ引足。关于单芯片电路板来讲，不管是输进引足，依然在引足发送测试图形时，其操纵三态均应为输出状态，即令ＯＥＪ更新存放器为１。

３．２数据采集

数据采集的目的是得到引足对测试图形的响应。假如引足正确，输出的测试图形就等于采集到的测试图形，假如引足出现故障，两者必有差异。由于采集到的测试数据确实是基本故障诊断的依据，因此能否正确、合理地采集到数据是数据采集的要害。单芯片电路板不像多芯片那样利用ｓａｍｐｌｅ模式采集数据，而是仍然利用ｅｘｔｅｓｔ模式来采集数据。

图２是利用ｓａｍｐｌｅ模式采集数据的原理图。在捕捉时期，由ＯＥＪ和ＯＵＴＪ来操纵三态门状态，以使电路板上三态输进引足为高阻状态，三态输出引足为输出状态。由于采集的数据是引足的实际状态，而不是引足对输出测试图形的响应，故用ｓａｍｐｌｅ模式不能正确地采集测试图形以用于故障诊断。

图３是利用ｅｘｔｅｓｔ模式在捕捉时期进行数据采集的示意图，图中的三态门受ＯＥＪ、ＯＵＴＪ更新存放器操纵，而这两个存放器的数值是发送测试图形时的值，三态有效。因此它所采集的数据即为引足对测试图形的响应，能够满足采集要求。

４测试算法

电路板常见故障模型有呆滞型故障、固定开路故障和短路故障。为了消除误判和混淆故障及提高诊断速度，可在算法上结合电路结构对自习惯算法和ＣＸ－ＴＢ导通测试算法以及二进制计数测试序列进行革新，以对引足全部的短路故障、呆滞故障进行完备诊断。具体步骤如下：

〔１〕引足分类

电路图中的引足可分为输进、输出、输进／输出、空闲、专用输进、地／电源、ＮＣ几类。由于专用输