半导体专题实验Van Der Pauw量测与霍尔效应.pptxVIP

半导体专题实验;实验目的;19世纪

以I/V的关系测量电阻

发现电阻值不只和物质相关也和其形状相关;EdwinH.Hall于1879年发现在带电流的薄金属片上加磁场时会出现一反向电压

霍尔效应是电场和磁场在移动中的电荷上所施力的结果。

此效应用来分辨一个半导体是N型还是P型并且可测量到majoritycarrier的concentration和mobility。

霍尔效应有时也被广泛用在electricprobe等其他电路应用上。;霍尔效应(HallEffect);;;VanDerPauw四点探针法中公式(1)的导证;;假设将物体沿横轴面切半，物体在上半平面，电流由M点灌入，O、P电位差不变。;;;;量测时的注意重点;实验原理;实验原理;vs.;方程式;由量测求出;由量测求出