CN110514881B 一种新型探针台及pcb测试方法 (上海泽丰半导体科技有限公司).pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约2.11万字
  • 约 19页
  • 2026-03-01 发布于山西
  • 举报

CN110514881B 一种新型探针台及pcb测试方法 (上海泽丰半导体科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN110514881B

(45)授权公告日2025.05.02

(21)申请号201910846278.3(56)对比文件

(22)申请日2019.09.09CN210894445U,2020.06.30

CN202720259U,2013.02.06

(65)同一申请的已公布的文献号

CN104965323A,2015.10.07

申请公布号CN110514881A

CN1869711A,20

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档