QMS-WI50-M8塞尺、塞规校准指导书.docVIP

文件编号：QMS-WI50-M版本号：08

文件编号：QMS-WI50-M

版本号：08

塞尺、塞规校准指导书

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?适用于东江科技（深圳）有限公司所有塞尺、塞规。

校准项目

校准技术要求

校准方法

校准周期

外观

?表面不应有锈蚀、碰伤、弯曲变形或其它缺陷；

?量具表面应有型号、规格且清晰正确；

?一套塞尺、塞规应齐全。

目视观察

塞尺：

三个月

塞规：

六个月

示值

误差

名称

标称值

允许偏差

详见下文

塞尺

0.02~0.1mm

±5μm

0.1~0.3mm

±8μm

0.3~0.6mm

±12μm

0.6~1.0mm

±16μm

塞规

所有规格

±5μm

校准标准件

数显千分尺

校准条件

环境温度：20±5℃；相对湿度：低于80%

1.0校准方法：

1.1清洁数显千分尺工作面、待测面，如有明显影响测量之銹斑、毛刺等，需用1200＃或以上

之砂纸去銹、去毛刺。

1.2将已归零调整好数显千分尺安装在千分尺架上；

1.3示值误差校准：

1.3.1塞尺：将已擦拭干净待检塞尺、塞规垂直放置于千分尺两测量面间(塞尺或塞规测量

面紧靠千分尺测量面)。塞尺工作面从上至下至少测5个位置，测量位置