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  • 2026-03-13 发布于上海
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锗 X、γ射线探测器测试方法编制说明.pdf

锗X、γ射线探测器测试方法

TestproceduresforgermaniumX-rayandgamma-ray

detectors

编制说明

(征求意见稿)

一.任务来源

锗探测器是目前广泛应用的gamma射线探测器中能量分辩最好的探测器,

是核物理研究、核分析技术、环境监测以及核查和核保障等国防和核技术应用领

域不可替代的核探测器。

2025年国家标准化管理委员会下达的国标编制计划《国家标准化管理委员

会关于下达2025年第二批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计划的通知》

(国标委发【2025】7号),由中国原子能科学院负责修订《锗X、γ射线探测

器测试方法》国家标准。

二.编写过程

《锗X、γ射线探测器测试方法》由中国原子能研究院负责起草。2025年

8月,规范起草人在前期工作的基础上展开进一步的文献资料调研,至2025年

12月形成的修订初稿,随后进行讨论,于2026年1月形成标准的征求意见稿,

向全国核仪器仪表标准化技术委员会委员和相关专家征求意见。

三.修订标准的有关说明

1、锗探测器从最初的锗(锂)探测器发展到高纯锗探测器,特别是发展出

薄死层的N型探测器后,开发出宽能量区从3keV-10MeV的高纯锗探测器,能

够覆盖常规的X和gamma射线能区。原标准虽然说明适用范围包括锗X射线探

测器,但针对低能X射线的具体技术指标尚有不足。在探测效率方面,近年来

采用蒙特卡洛方法的无源效率刻度已经具有实用能力,原标准中缺少相应的技术

指导。

2、原标准中探测效率部分在正文中引用了JJG578—1994《锗γ谱仪体源活度测

量装置检定规程》和JJG752—1991《锗γ谱仪活度标准装置检定规程》,由于这

两个检定规程已废止,而新的校准规范JJF1850-2020《锗γ射线谱仪校准规范》

引用本标准,因此需要重新更具体地描述探测效率测量方法。此外,针对基于蒙

特卡洛的无源效率校准方法,增加一节进行描述。

3、增加关于低能X射线的技术指标及其测量方法:目前针对X射线的两个现行

国标GB/T13179-2008《硅(锂)X射线探测器系统》和GB/T11685-2003《半

导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》中均规定了峰尾比

参数这个技术指标,在修订标准中增加该技术指标的测试方法。此外,由于测量

能区范围增加,能量线性变得更重要,拟增加能量测量非线性的技术指标和测试

方法。

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