电感耦合等离子体质谱法(AMC掺杂剂B和P测定)半导体洁净室编制说明(预审稿).pdf

电感耦合等离子体质谱法(AMC掺杂剂B和P测定)半导体洁净室编制说明(预审稿).pdf

《半导体洁净室空气分子污染物(AMC)掺杂剂B和P测定

电感耦合等离子体质谱法》编制说明(预审稿)

一、工作简况

1.1立项目的和意义

随着信息技术的飞速发展,我国半导体相关的工业洁净厂房市场规模大幅增

长,而随着大规模集成电路芯片线宽不断变窄,超低浓度分子级别的气态化学污

染物已经成为了影响产业发展和良品率的主要因素。空气分子污染物(AMC)

即环境中有能力沉降于表面上形成单分子层(Monolayer)薄膜的气态化学污染物

质,有机污染会引起生产工具中不利的影响,同时增加集成半导体器件、磁盘驱

动、液晶显

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