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CN119001581B 用于芯片晶圆检测的探针卡生产质量管理方法及系统 （道格特半导体科技(江苏)有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-03-20 发布于重庆
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CN119001581B 用于芯片晶圆检测的探针卡生产质量管理方法及系统 （道格特半导体科技(江苏)有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN119001581B

    (45)授权公告日2025.01.21

    (21)申请号202411471479.7(56)对比文件

    (22)申请日2024.10.22CN104459231A,2015.03.25

    CN116467130A,2023.07.21

    (65)同一申请的已公布的文献号

    审查员谢佳琪

    申请公布号CN119001581A

    (43)申请公布日2024.11.22

    (73)专利权人道格特半导体科技（江苏）有限公

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