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- 2026-03-20 发布于四川
-
正版发售
- 现行
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- | 2026-02-27 颁布
- | 2026-09-01 实施
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.92026IEC60749-92017
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分标志耐久性
9
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part9Permanenceofmarking
(:,)
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