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新建光芯片性能测试平台建设项目可行性研究报告

第一章项目总论

项目名称及建设性质

项目名称：新建光芯片性能测试平台建设项目

项目建设性质：该项目属于新建高新技术产业项目，专注于光芯片性能测试平台的投资建设与运营，为光通信、光传感、量子科技等领域提供专业的性能测试服务及技术支持。

项目占地及用地指标：该项目规划总用地面积36000平方米（折合约54亩），建筑物基底占地面积21600平方米；项目规划总建筑面积43200平方米，其中测试实验室30240平方米、研发中心5760平方米、办公用房4320平方米、配套服务用房2880平方米；绿化面积2880平方米，场区停车场和道路及场地硬化占地面积11