脑机接口专题报告——半侵入安全完胜，更具消费级潜力-.pptxVIP

l长期使用更安全，通道上限高。侵入式插入脑组织的电极四周易出现胶质瘢痕，导致神经元凋亡和炎症反应，生物相容性恶化。电极脱出概率高，造成脑组织和周边血管损伤；脑组织热敏感性极高，侵入式脑机由于较高的集成性，主要热源芯片与脑组织距离近，功耗和通道数易达上限。半侵入式电极位于皮层外，不形成胶质瘢痕，长期生物相容性更好，且薄膜电极无轴向脱出可能。芯片和电极的分体式设

计，更好解决热极限难题。因此，半侵入式在长期使用中电极稳定性更优，发热控制更好，且随着通道数增长优势将进一步扩大。

l取出更安全，更具消费级潜力。侵入式电极取出时会撕脱血管网，导致实质损毁和出血，造成物理性坑洞，神经元缺失，同时出血位置在皮层内部，止血困难。半侵入式薄膜电极揭离不损伤实质血管，极大降低出血概率，即便出血也仅限于表面易于处理，同时脑组织结构完整，具备完全可逆性。随着脑机接口即将进入高通量时代，消费级应用得以展望，面对更快的换代频率，半侵入式更加贴合易取出、易更换的需求，更具向消费级拓展的潜力。

l综合来看：半侵入式能基本解决植入、长期使用和取出的安全性难题，并且随通道数增加优势更为明显，安全性是获批落地并抢占脑神经疾病赛道的必要条件，因此我们认为半侵入式安全性更好，发展潜力更大。

l脑机接口作为多学科交叉新兴技术，想象空间广阔，但消费领域应用需先经脑神经疾病治疗领域验证。因为人脑植入物管控严格，