CN119541610A 一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法 (合肥康芯威存储技术有限公司).pdfVIP

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  • 2026-03-25 发布于重庆
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CN119541610A 一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法 (合肥康芯威存储技术有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119541610A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202510105140.3

(22)申请日2025.01.23

(71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司

地址230601安徽省合肥市经济技术开发

区宿松路3963号智能装备科技园D3栋

5层

(72)发明人张秀杰余玉

(74)专利代理机构上海汉之律师事务所31378

专利代理师林安安

(51)Int.Cl.

G11C29/56(2006.01)

G06F3/06(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图2页

(54)发明名称

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