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CN115166468B 一种半导体器件同步结温测试的方法 （西安卫光科技有限公司）.docxVIP

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  • 2026-03-28 发布于山西
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CN115166468B 一种半导体器件同步结温测试的方法 （西安卫光科技有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN115166468B

    (45)授权公告日2025.06.06

    (21)申请号202210951805.9

    (22)申请日2022.08.09

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115166468A

    (43)申请公布日2022.10.11

    (73)专利权人西安卫光科技有限公司

    地址710065陕西省西安市电子二路61号

    (72)发明人李飞朱雅鸽安海华田晓晨韩冰

    (74)专利代理机构西安通大专利代理有限责任公司61200

    专利代理师陈翠兰

    (51)Int.Cl.

    G01

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