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CN115358106B 一种基于x射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法 （华南理工大学）.docxVIP

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  • 2026-03-29 发布于山西
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CN115358106B 一种基于x射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法 （华南理工大学）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN115358106B

    (45)授权公告日2025.05.30

    (21)申请号202210838651.2

    (22)申请日2022.07.18

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115358106A

    (43)申请公布日2022.11.18

    (73)专利权人华南理工大学

    地址510640广东省广州市天河区五山路

    381号

    (72)发明人沈文浩许洁刘寅王益

    (74)专利代理机构广州市华学知识产权代理有限公司44245

    专利代理师黄卫萍

    (51)Int.Cl.

    G06F3

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