计及陷阱演变的高介电芳香族聚脲老化特性及机理.pdfVIP

物理学报

Acta

Phys.

Sin.Vol.74,No.8(2025)087701

计及陷阱演变的高介电芳香族聚脲老化特性及机理*

冯阳

张硕

周彬

刘培焱

杨心如

李盛涛†

(西安交通大学,

电工材料电气绝缘全国重点实验室,

西安710049)

(2024

年11

月11日收到;

2025

年1

月24日收到修改稿)

采用热氧老化方式模拟聚脲(polyurea,

PU)薄膜在高温工况下的老化行为,

根据PU薄膜介电储能特性

的变化规律将其老化过程划分为3个阶段.

结果表明:

老化初期,

氧气的桥接作用促使分子链规整排列,

相邻

脲基团之间的氢键作用稍有增强,

分子链间距减小,

介电常数减小,

而击穿场强变化较小;

老化中期,

醚键断

裂并诱导形成联苯结构,

体系无定形程度加剧,

介电常数增大,

但联苯结构加深了陷阱深度,

导致载流子迁移

率降