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材料分析报告测试技术习题及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分。请将正确选项的字母填在括号内）

1.在材料科学研究中，用于测定材料晶粒尺寸、物相结构和晶体取向的主要测试技术是（）。

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.原子力显微镜（AFM）

C.X射线衍射（XRD）

D.傅里叶变换红外光谱（FTIR）

2.下列哪种电子束与样品相互作用主要产生二次电子信号，常用于观察材料表面的形貌和微结构？（）

A.背散射电子（BSE）

B.衍射电子（DE）

C.二次电子（SE）

D.特征X射线

3.原子吸收光谱法（AAS）主要用于定量分析材料中哪种元素？（）

A.大量元素

B.微量元素

C.稀土元素

D.所有元素

4.当X射线照射到晶体时，产生衍射现象的根本原因是（）。

A.X射线的波动性

B.晶体中原子（离子）的周期性排列

C.X射线的穿透能力

D.晶体缺陷的存在

5.透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）相比，其主要优势在于（）。

A.分辨率更高

B.样品制备要求更低

C.可以进行元素