全自动晶圆探针台针痕检测及补偿应用.docx

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毕业设计(论文)

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毕业设计(论文)报告

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全自动晶圆探针台针痕检测及补偿应用

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全自动晶圆探针台针痕检测及补偿应用

摘要:随着半导体工业的快速发展,晶圆探针台在半导体制造过程中扮演着至关重要的角色。然而,由于机械磨损、温度变化等因素,探针台在长时间使用后会出现针痕问题,影响探针与晶圆的接触质量,进而影响晶圆的良率。本文针对全自动晶圆探针台针痕检测及补偿问题进行研究,提出了一种基于机器视觉和深度学习的针痕检测方法,并设计了相应的补偿算法。实验结果表明,该方法能够有效检测

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