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CN120084199A 一种监测pcb内层机械钻孔偏移量的测量方法 （中山芯承半导体有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-04-11 发布于重庆
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CN120084199A 一种监测pcb内层机械钻孔偏移量的测量方法 （中山芯承半导体有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120084199A

    (43)申请公布日2025.06.03

    (21)申请号202510166917.7

    (22)申请日2025.02.14

    (71)申请人中山芯承半导体有限公司

    地址528400广东省中山市三角镇金三大

    道东8号D区五楼D502

    (72)发明人柯昌兵杨明蔡琨辰

    (74)专利代理机构广东颖联知识产权代理事务

    所(普通合伙)44647

    专利代理师钟作亮

    (51)Int.Cl.

    G01B7/00(2006.01)

    H05K3/00(2006.01)

    权利要求书2页说明书5页附图4页

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