兰州大学现代材料研究方法第6讲 X射线衍射方法的应用.pptVIP

*薄膜材料掠角入射物相分析X射线辐射具有较大穿透深度能力，故而X射线衍射不具有表面敏感性。掠射入射(GID)则克服了这种困难，通过以很低的入射角度进行掠射分析可尽可能从薄膜层得到最大的信号，从而可分析相组份沿深度的分布。衍射仪在采用掠入射几何后便具有了表面敏感性薄膜层的相分析；纳米尺度的表面灵敏度相组份的深度分布*薄膜材料掠角入射物相分析在入射角和反射角接近X射线全反射的临界角时，可以得到最强的表面信号。较浅的透入深度使得Bragg点阵在垂直表面方向上展宽成棒（倒易棒）。通过掠入射，可以得到物体表面内二维结构信息。对于X射线源要求高，强度高、准直性好，点光源，能调节掠射角，样品台和测角器能够进行高度调节。*材料状态鉴别不同的物质状态对X射线的衍射作用是不相同的，因此可以利用X射线衍射谱来区别晶态和非晶态一般非晶态物质的XRD谱为一条直线漫散型峰的XRD一般是由液体型固体和气体型固体所构成微晶态具有晶体的特征，但由于晶粒小会产生衍射峰的宽化弥散，而结晶好的晶态物质会产生尖锐的衍射峰*不同材料状态以及相应的XRD谱示意图*纳米材料的合成（LaCoO3）图7不同温度下煅烧2小时所得样品的XRD图图8600℃下煅烧不同时间所得样品的XRD图*纳米线的结构水解纳米线产物图