基于改进ResNet的晶圆缺陷模式识别研究(英文).docx

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基于改进ResNet的晶圆缺陷模式识别研究(英文)

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基于改进ResNet的晶圆缺陷模式识别研究(英文)

摘要:随着半导体产业的快速发展,晶圆缺陷检测技术成为关键环节。传统的缺陷检测方法存在检测精度低、效率低等问题。本文提出了一种基于改进ResNet的晶圆缺陷模式识别方法。首先,对ResNet网络结构进行改进,引入注意力机制,提高网络对缺陷特征的提取能力。其次,通过数据增强技术扩充训练数据集,提升模型的泛化能力。最后,在公开数

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