基于机器视觉、百度AI与深度学习的晶圆缺陷检测方法研究.docx

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毕业设计(论文)报告

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基于机器视觉、百度AI与深度学习的晶圆缺陷检测方法研究

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基于机器视觉、百度AI与深度学习的晶圆缺陷检测方法研究

摘要:随着半导体产业的快速发展,晶圆制造过程中产生的缺陷检测对产品质量至关重要。本文提出了一种基于机器视觉、百度AI与深度学习的晶圆缺陷检测方法。首先,通过机器视觉技术采集晶圆图像,并利用百度AI的图像识别功能进行初步缺陷分类。然后,采用深度学习算法对晶圆图像进行特征提取和缺陷检测。实验结果表明,该方法具有较高的检

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