块状样品制备方法51课件讲解.pptxVIP

块状样品制备方法

CONTENTS目录01制样要求样品制备02

制样要求01

制样要求1.对于非断口的金属块状试样，应尽可能的磨成平面，并进行简单的抛光，这样不但可以去除金属表面的氧化膜，也可以消除表面应变层。用超声波清洗去除表面的杂质，但要保证试样的面积应大于10mm×10mm。2.对于薄膜试样，其厚度应大于20nm，并在做测试前检验确定基片的取向，如果表面十分不平整，根据实际情况可以用导电胶或者橡皮泥对样本进行固定，并使样品表面尽可能的平整。3.对于片状、圆柱状的试样会存在严重的择优取向，造成衍射强度异常，此时在测试时应合理的选择响应方向平面。4.对于断口、裂纹的表面衍射分子，要求端口尽可能的平整并提供断口所含元素。

样品制备02

样品制备请在此处输入您的文本请在此处输入您的文本，请在此处输入您的文本，请在此请在此处输您的文本，请在此处输您的文本请在此处输您的文本，请在此处输您的文本内容及其格式。点击此处添加标题用石蜡或者橡皮泥将块状样品固定在窗口内，样品要与样品板平齐。

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