《氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法》标准立项修订与发展报告.docx

《氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法》标准立项修订与发展报告

一、标题

氮化镓材料中镁含量测定（二次离子质谱法）标准化发展报告

二、英文标题

*StandardizationDevelopmentReportonMagnesiumContentDeterminationinGalliumNitrideMaterialsbySecondaryIonMassSpectrometry*

三、摘要

氮化镓（GalliumNitride,GaN）材料在半导体照明、功率电子、射频器件等领域应用日益广泛，镁（Mg）作为关键掺杂元素对材料的电学性能、光学特性具有决定性影