扫描近场光学显微镜中光纤探针制作与音叉探测系统的深度剖析.docx

扫描近场光学显微镜中光纤探针制作与音叉探测系统的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展，人类对微观世界的探索不断深入，纳米级光学成像技术在众多领域中展现出至关重要的作用。扫描近场光学显微镜（ScanningNear-FieldOpticalMicroscope，SNOM）作为一种能够突破传统光学衍射极限的新型显微技术，为纳米级光学成像提供了强有力的工具，在材料科学、生物医学、半导体制造等领域具有广泛的应用前景。

传统光学显微镜受限于光的衍射效应，其分辨率通常被限制在光波长的一半左右，在可见光波段，分辨率难以超过200nm。这一限制使得传统光学显微镜无法满足