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CN119437843A 一种晶圆样品的聚焦离子束超薄切片制样预处理方法 （广电计量检测(无锡)有限公司）.docxVIP

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  • 2026-04-24 发布于山西
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CN119437843A 一种晶圆样品的聚焦离子束超薄切片制样预处理方法 （广电计量检测(无锡)有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119437843A

    (43)申请公布日2025.02.14

    (21)申请号202411860552.X

    (22)申请日2024.12.17

    (71)申请人广电计量检测（无锡）有限公司

    地址214111江苏省无锡市新吴区宁韵路8

    号（经营场所:无锡市新吴区珠江路38

    号）

    (72)发明人陈振明志茂陆裕东储程晨刘辰韦卫冯英鹏陈军

    (74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限

    公司44202

    专利代理师方琦琦

    (51)Int.Cl.

    G01N1/28(2006.

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