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CN120044270A 一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 （胜科纳米(苏州)股份有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-04-25 发布于重庆
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CN120044270A 一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 （胜科纳米(苏州)股份有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN120044270A

    (43)申请公布日2025.05.27

    (21)申请号202510217141.7

    (22)申请日2025.02.26

    (71)申请人胜科纳米（苏州）

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