微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法.pdfVIP

微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法.pdf

微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

1范围

本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）图像测量所记录核壳结构颗粒

外表面包覆的纳米级壳层厚度的方法，适用于核层直径在5nm∼1μm范围的核壳结构颗粒。本文件适用

于透射电子显微镜（TEM）或者扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的微纳颗粒数字像以及配备的X射线

能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的元素面分布图。本文件也适用于胶片记录的模

拟像经扫描仪转换的数字像。

本文件不适用于测量无法形成衬度像的核壳结构以及模拟软件获得的TEM/STEM像；也不适用于投影

像Z方向大于X,Y方向的颗粒以及具有复杂投影像的颗粒，例如类似海胆结构的纳米颗粒。

注：当测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时，本测试方法的不确定度将明显增大。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T34002微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法