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CN119702509A 一种基于数据分析的芯片质量评估系统及方法 （江苏满旺半导体科技股份有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-04-27 发布于重庆
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CN119702509A 一种基于数据分析的芯片质量评估系统及方法 （江苏满旺半导体科技股份有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119702509A

    (43)申请公布日2025.03.28

    (21)申请号202510214697.0

    (22)申请日2025.02.26

    (71)申请人江苏满旺半导体科技股份有限公司

    地址213017江苏省常州市天宁区青洋北

    路11号

    (72)发明人付强刘伟汤小敏

    (74)专利代理机构北京华际知识产权代理有限

    公司11676

    专利代理师李帅

    (51)Int.Cl.

    B07C5/344(2006.01)

    G01D21/02(2006.01)

    B07C5/36(2006.01)

    权利要求书4页

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