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  • 2026-05-09 发布于上海
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探索FPGA测试方法:技术、挑战与创新应用.docx

探索FPGA测试方法:技术、挑战与创新应用

一、引言

1.1FPGA概述与发展

FPGA,即现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray),作为一种可编程逻辑器件,在现代电子系统设计中占据着举足轻重的地位。它允许用户通过编程来定义芯片的功能,这种灵活性使其区别于传统的专用集成电路(ASIC),为电子设计带来了前所未有的便捷与高效。

从结构上看,FPGA主要由可配置逻辑块(CLB)、输入输出单元(IOB)、布线资源、嵌入式存储器块以及数字时钟管理(DCM)等部分组成。其中,CLB是基本的逻辑构建单元,包含触发器和逻辑门,能够实现各种逻辑功能;IOB

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