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高通量基因测序仪性能的测定方法

1范围

本标准规定了高通量基因测序仪的性能测定方法。

本标准适用的仪器范围包括以联合探针锚定聚合测序法、可逆末端终止测序法、半导体测序法等技

术为主要技术原理的并行测序高通量基因测序仪。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T11606分析仪器环境试验方法

GB/T14710医用电器环境要求及试验方法

GB/T30989高通量基因测序技术规程

YY/T1723-2020高通量基因测序仪

3术语和定义

YY/T1723-2020界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

高通量基因测序仪high-throughputgenesequencer

具有明显区别于Sanger测序的基因测序仪，其特点主要表现在不必预先明确目的片段的引物区序列、

基于片段化的DNA、依赖于独立反应体系进行克隆扩增、能一次进行对几十万到几百万条核酸序列

（DNA）分子并行序列测定和读长一般较短等技术特征为标志。

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