《几何伪影自校正方法研究的国内外文献综述》5900字.docx

几何伪影自校正方法研究的国内外文献综述

根据是否需要标准体模，将几何伪影校正方法分为离线标定方法和自校正方法。离线标定方法根据标准体模中标记物的坐标与其投影坐标的对应关系来求解几何参数。离线标定方法经过三十年的时间已经取得了深入的发展，具有较高的计算精度且不依赖被检测物体本身，通用性较高。但这类方法的不足之处在于校正精度依赖标准体模的加工精度，且需要对体模额外旋转扫描。而随着CT成像分辨率越来越高，现CT成像分辨率已进入纳米尺度，其成像视野受限于几个毫米，对体模的精度和尺寸提出双重要求，导致应用离线标定方法时面临严峻挑战。

为了解决高精度体模难以制作和加工这个问题，几何伪影自校正方法随之发展。