CN119517132A 一种lpddr芯片的emi值测试方法、系统、装置及存储介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119517132A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202510082275.2

(22)申请日2025.01.20

(71)申请人深圳市晶存科技股份有限公司

地址518048广东省深圳市福田区福保街

道福保社区市花路创凌通科技大厦三

层

(72)发明人刘孜

(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205

专利代理师林灿伟

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G11C29/56(2006.01)

权利要求书2页说明书12页附图2页

(54)发明名称

一种LPDDR芯片的EMI值测试方法、系统、装

置及存储介质

(57)摘要

CN119517132A本发明公开了一种LPDDR芯片的EMI值测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取LPDDR芯片的第一存储容量；获取LPDDR芯片的第二存储容量；将第一存储容量和第二存储容量分别与预设存储容量进行比较得到第一比较结果；根据第一比较结果、第一存储表和第二存储表获取第一EMI值和第二EMI值；根据第一EMI值和第二EMI值确定LPDDR芯片EMI值。通过全面且有针对性地检测整个LPDDR芯片中两个Rank的存储容量，并根据存储容量获取相应的第一EMI值和第二EM