《高纯氢氧化铟、高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：痕量元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》标准立项修订与发展报告.docxVIP

《高纯氢氧化铟、高纯氧化铟化学分析方法第4部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》标准立项修订与发展报告

GB/TT-610高纯氢氧化铟、高纯氧化铟化学分析方法第4部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonGB/TT-610-MethodsforChemicalAnalysisofHigh-PurityIndiumHydroxideandHigh-PurityIndiumOxide-Part4:DeterminationofTraceElementContents-InductivelyCoupledPlasmaMassSpectrometry

摘要

本报告系统阐述了国家标准计划《高纯氢氧化铟、高纯氧化铟化学分析方法第4部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》（计划号T-610）的研制背景、技术内容、编制过程及预期应用价值。随着电子信息、新能源、航空航天等战略性新兴产业的快速发展，高纯铟化合物作为关键基础材料，其纯度要求日益严苛，痕量元素含量的精准测定成为保障产品质量与性能的核心环节。本标准针对高纯氢氧化铟和高纯氧化铟中痕量元素含量测定需求，采