CN119535183A 一种芯片功耗的检测方法及系统 （成都电科蓉芯科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119535183A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202510107866.0

(22)申请日2025.01.23

(71)申请人成都电科蓉芯科技有限公司

地址610299四川省成都市中国（四川）自

由贸易试验区天府新区兴隆街道湖畔路北段715号1号楼302室

(72)发明人彭磊叶锦宏张文远苟绍予

(74)专利代理机构成都华飞知识产权代理事务所(普通合伙)51281

专利代理师徐鸿

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R31/52(2020.01)

G01R31/54(2020.01)

G01R21/00(2006.01)

G01J5/48(2022.01)

G06T7/00(2017.01)

权利要求书3页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一种芯片功耗的检测方法及系统

(57)摘要

CN119535183A本申请涉及芯片功耗检测技术领域，提供了一种芯片功耗的检测方法及系统，包括通过红外热像仪获取目标芯片不同负载下的目标红外图像；计算不同负载下目标芯片对应的目标功耗值；将目标功耗值与标准功耗值进行第一对比，若差值超出第一预设范围，则判定目标芯片功耗异常；若差值在第一预设范