CN119535139A 一种微型发光芯片测试方法以及测试模组 （重庆康佳光电科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119535139A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202311085175.2

(22)申请日2023.08.25

(71)申请人重庆康佳光电科技有限公司

地址402760重庆市璧山区璧泉街道钨山

路69号（1号厂房）

(72)发明人戴广超马非凡赵永周陈德伪王子川

(74)专利代理机构深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281

专利代理师李发兵

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

H01L21/66(2006.01)

H01L23/544(2006.01)

H10H20/01(2025.01)

H01L21/78(2006.01)

G01R1/04(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图7页

(54)发明名称

一种微型发光芯片测试方法以及测试模组

(57)摘要

CN119535139A本申请涉及一种微型发光芯片测试方法以及测试模组，微型发光芯片测试方法包括提供设置有多颗微型发光芯片的芯片基板；提供检测基板；将微型发光芯片巨量转移至检测基板，每颗转移的微型发光芯片设于一个导电单元上，微型发光芯片的电极与一对引出部均电连接，每一引出部在转移微型发光芯片存在露出的键合区域；将检测基板