CN119559178A 基于改进YOLOv8n的轻量化PCB缺陷检测方法、装置及存储介质 （广东工业大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119559178A

(43)申请公布日2025.03.04

(21)申请号202510126144.X

(22)申请日2025.01.27

(71)申请人广东工业大学

地址510062广东省广州市越秀区东风东

路729号

(72)发明人李坪臻徐胜陈静苏成悦

(74)专利代理机构广东广信君达律师事务所44329

专利代理师杨晓松

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/082(2023.01)

G06V10/25(2022.01)

G06V10/44(2022.01)

G06V10/52(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G01N21/956(2006.01)

G01N21/88(2006.01)

权利要求书2页说明书8页附图8页

(54)发明名称

基于改进YOLOv8n的轻量化PCB缺陷检测方

法、装置及存储介质

(57)摘要

CN119559178A本发明提供一种基于改进YOLOv8n的轻量化PCB缺陷检测方法、装置及存储介质，包括：获取PCB表面缺陷数据集，对数据集进行预处理，并将预