CN119576677A 基于s905x4平台的芯片测试方法、电子设备、介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119576677A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202510139268.1

(22)申请日2025.02.08

(71)申请人深圳市晶存科技股份有限公司

地址518000广东省深圳市福田区福保街

道福保社区市花路创凌通科技大厦三

层

(72)发明人谢登煌曾育钊

(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205

专利代理师林灿伟

(51)Int.Cl.

G06F11/26(2006.01)

G06F11/22(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图8页

(54)发明名称

基于S905X4平台的芯片测试方法、电子设

备、介质

(57)摘要

CN119576677A本发明公开了一种基于S905X4平台的芯片测试方法、电子设备、介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取S905X4平台；在每个安装区域的表面放置限位装置；将两个DDR4芯片分别放置在对应的限位孔内，使DDR4芯片与对应的导电胶接触；在每个限位装置上放置压紧装置，通过压紧装置压住DDR4芯片；将S905X4平台与上位机连接；S905X4平台对DDR4芯片进行测试，并将测试结果发送至上位机。根据本发明实施例的方法，使得对DDR4芯片测试时，DDR4芯片的安