CN119585625A 用于检验电气装置的探头及其制造方法 （株式会社纳诺艾思）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119585625A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202380049733.1

(22)申请日2023.05.03

(30)优先权数据

10-2022-00549202022.05.03KR

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2024.12.25

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/KR2023/0060102023.05.03

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2023/214784KO2023.11.09

(71)申请人株式会社纳诺艾思地址韩国京畿道

(72)发明人张弼国

(74)专利代理机构北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11384

专利代理师郑青松

(51)Int.Cl.

G01R1/073(2006.01)

G01R1/04(2006.01)

G01R3/00(2006.01)

权利要求书3页说明书12页附图33页

(54)发明名称

用于检验电气装置的探头及其制造方法

(57)摘要

CN119585625A本发明公开了一种能够同时测量多个待测装置的探头。根据本发明的探头的特征在于，包括通过堆叠多个弹性层而形成的弹性体和埋设在上述弹性体内部的电极部。由此，通过有效地吸收在与待测装置接触时产生的冲击或