基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdfVIP

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  • 2026-05-21 发布于浙江
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基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法.pdf

ICS31.080

CCSL40

13

河北省地方标准

DB13/T5696—2023

基于高温反偏试验的GaNHEMT射频功率器

件缺陷快速筛选方法

2023-05-06发布2023-06-06实施

河北省市场监督管理局发布

DB13/T5696—2023

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的

规定起草。

请注意本文件的某些内容

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