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  • 2026-05-25 发布于河北
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数字电路测试方法研究.pdf

    200912No.12,2009

    (108)PopularBusiness(Cumulatively,NO.108)

    数字电路测试方法研究

    (,730000)

    【】,IP,DF

    。,。

    【】DF;;

    :M13:A:1009-8283(2009)12-0287-01

    1DF电路内难于测试的节点引出,作为测试点,如果测试点直接用作系统的

    通常来说,一个合格的芯片一般要经过两次测试。一次是所谓的晶原始输入,则可以提高该电路节点的可控性,如果测试点用作系统的原

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