GBT 44937-2025 Part 2： 辐射发射测量培训.pptxVIP

GB/T44937-2025Part2:辐射发射测量培训

目录

02

TEM小室方法原理

01

标准概述

03

宽带TEM小室方法原理

04

测量步骤详解

05

设备与工具要求

06

应用与总结

标准概述

01

标准背景与范围

电磁兼容性需求

随着集成电路工作频率和集成度的提高，电磁发射问题日益突出，本标准旨在规范集成电路辐射发射的标准化测试方法，确保电子设备间的电磁兼容性。

国际标准转化

本标准等同采用IEC61967-2:2005国际标准，结合国内产业实际情况进行本土化修订，保持与国际技术要求的同步性。

测试方法覆盖

标准规定了使用TEM小室和宽带TEM小室两种测试方法，覆盖150kHz至1GHz频率范围内的辐射发射测量需求。

TEM小室

指横向电磁波传输室，用于产生标准平面电磁波场，为被测集成电路提供可控的电磁环境，其尺寸需满足波长与测试频率的匹配要求。

宽带TEM小室

在传统TEM小室基础上扩展了工作频带，通过特殊结构设计支持更高频率测试，同时保持场均匀性和阻抗匹配特性。

辐射发射

指集成电路在工作状态下向空间辐射的电磁能量，可能对周边设备造成干扰，需通过标准化测量评估其强度。

归一化测量

将实测数据转换为标准条件下的等效值，消除测试系统差异对结果的影响，确保测量数据的可比性和可重复性。

关键术语定义

应用领域介绍

芯片设计验证

为集成电路设计阶段提供辐射特性评估