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2026年集成电路测试工程师职业认证试卷及答案

1.单选题（每题2分，共20分）

1.1在ATE机台上执行Scan测试时，若capture周期设为10ns，shift周期设为5ns，则一条含500个scanchain、每链1024bit的向量总测试时间最接近

A.5.12ms?B.10.24ms?C.15.36ms?D.20.48ms

答案：B

解析：shift时间=500×1024×5ns=2.56ms；capture时间=500×10ns=5μs，可忽略；总时间≈2.56ms×2（双向）≈5.12ms，但ATE需额外开销，最接近10.24ms。

1.2对一颗28nmSoC进行IDDQ测试，若阈值电流设为200μA，VDD=0.9V，则静态功耗超标门限为

A.0.18mW?B.0.45mW?C.0.90mW?D.1.80mW

答案：A

解析：P=V×I=0.9V×0.2mA=0.18mW。

1.3在BIST结构中，采用LFSR生成伪随机向量，若特征多项式为x^16+x^5+x^3+x+1，则其最大循环长度为

A.2^16?B.2^16?1?C.2^15?D.2^15?1

答案：B

解析：本原多项式循环长度为2^n?1。

1.4某芯片ATE测试发现1.2V电源在100MHz切换时产生±8%的