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  • 2026-05-27 发布于山东
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测控技术

·12·2020391容错计算与软件测试专题

年第卷第期

面向VLSI的门级单粒子效应评估技术

陈鑫,陆禹帆,张颖,施聿哲,刘小雨

(南京航空航天大学电子信息工程学院,江苏南京211106)

摘要由于空间辐射环境充满了各类射线和高能粒子非常容易诱发集成电路发生单粒子效应因此有

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必要开发对应的评估技术,分析单粒子效应对超大规模集成电路(VLSI)的影响。以ISCAS89测试基准

VLSI

电路为主要研究对象,提出了一种适用于的单粒子效应评估技术,可以通过脚本自动生成仿真和

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