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芯片测试引脚使用的规划案例

由于引脚数目有限，所以即使在全部使用测试压缩技术的情况下，也无法同时测试完整个芯片.所以在考虑测试可行性的情况下，会把芯片整体划分为不同的测试阶段(phase)测试。即每次只测试划分在相同phase中的测试模块。区分的依据是：

(1)同一phase测试的模块，要保障模块间物理距离较远，以保障测试时，不引起局部的功耗过大，避免后期为解决测试功耗的问题牺牲测试时间[31]。

(2)同一phase测试的模块，会分享测试的端口，所以同一phase测试的模块，总共需要的I/O口，不能超过芯片总共可以提供的端口，否则，测试将无法进行。

(3)不同phase中包含的模块的规模以及