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扫描近场光学显微镜关键技术剖析与前沿探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学技术的发展进程中，对微观世界的探索始终是推动各领域进步的关键力量。传统光学显微镜由于受到光的衍射极限的制约，其分辨率被限制在光波长的一半左右，难以满足当今对微观结构深入研究的需求。例如，在可见光波段，传统光学显微镜的分辨率通常无法突破200纳米，这在很大程度上限制了人们对纳米尺度下物质的微观结构和光学特性的观测与研究。

扫描近场光学显微镜（ScanningNear-FieldOpticalMicroscope，SNOM）的出现，为解决这一难题提供了有效的途径。它打破了传统光学显微镜的衍射极限束缚